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Centre de compétences en Microscopies Electroniques et Microsondes - CC MEM

Cette Plateforme met à la disposition de la communauté scientifique lorraine des outils de caractérisation des matériaux par différentes techniques de microscopies électroniques et de microanalyses (MET, MEB, microsonde et SIMS), dans un même lieu géographique.

Les équipements dont dispose le CC MEM permettent :

- la caractérisation des matériaux à différentes échelles allant de quelques dixièmes de nanomètre à quelques centaines de micromètres selon les techniques mises en œuvre,

- des analyses qualitatives et quantitatives de la composition des matériaux,

- des cartographies de ces éléments ainsi que des profils en fonction de la profondeur de quelques nanomètres à plusieurs microns.

Ses équipements sont ouverts aux chercheurs de l’Institut Jean lamour ainsi qu’aux laboratoires universitaires ou industriels tous secteurs confondus.


Le CC MEM est actuellement basé sur le site de Saurupt de L’Institut Jean Lamour.

Il est constitué de 4 personnels techniques.


Responsable du CC : Jaafar GHANBAJA