Annuaire  |  Flux RSS  |  Espace presse  |  Intranet  |  Webmail  |  Videos  |    Photos   MET - CM200  MET - CM200 

MET - CM200 associé à un spectromètre de dispersion d’énergie des photons X (EDXS)

Les principaux apports de la microscopie électronique en transmission sont:

  • Son excellente résolution dans l'espace réel pouvant atteindre l'échelle atomique.
  • La possibilité de combiner l'information obtenue dans l'espace réel en mode image avec l'information obtenue dans l'espace de Fourier (ou réciproque) en mode diffraction.

Enfin, la nature de l'interaction électron-matière permet de coupler les études structurales ou morphologiques à des études de composition chimique.

 

Caractéristiques du CM200

Filament : LaB6
Tensions d'accélération : 20, 40, 60, 80, 120, 160, 200 kV

Type de lentille : TWIN

Cs : 2 mm, Cc : 2 mm

Taille de sonde minimale : 2 nm

Résolution par point : 0.27 nm, résolution en lignes : 0.14 nm

Grandissement : x50 à x750 000

Porte-échantillons : simple tilt analytique, double tilt analytique,  chauffant Gatan (1300°C).

Caméras :
- wide angle Gatan Erlangshen ES500W 1k x 1k, 20MHz
- post column Gatan MSC600 1k x 1k, 1MHz

Galeries de micrographies réalisées à l’aide du MET Philips CM200

Dépôt de ZnO sur fil d’acier inoxydable
Image en champ clair de dislocations
Diffraction en faisceau convergent à grand angle
Diffraction en aire sélectionnée sur monocristal de Si
Micrographie MET d’une diatomée
Bouquet de fleurs de silice
Aragonite
Micrographie de nanotubes de carbone

 

 

Vers le haut