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Catégorie : Evénements scientifiques

Lundi 4 février 2019 : Séminaire de Etienne TALBOT : Atomic Probe Tomography : application to the characterization of semiconductor nano crystals

L'Institut Jean Lamour invite Etienne TALBOT (Groupe de Physique des Matériaux, UMR CNRS 6634, Université et INSA de Rouen, 76800 Saint Etienne du Rouvray, France ) pour un séminaire sur le thème :

"Atomic Probe Tomography : application to the characterization of semiconductor nano crystals"

 

Date et lieu :
Lundi 4 février 2019 à 14h00
Campus Artem
Amphithéâtre 200

 

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