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Événements du mois |
Le Centre de Compétences X-Gamma de l'Institut Jean Lamour organise pour la 6ème année consécutive la Journée de formation X-Gamma.
Cette formation s’adresse à toute personne intéressée par les aspects techniques et scientifiques rencontrés lors de mesures de diffraction X.
La thématique retenue cette année est :
La Caractérisation des monocristaux par diffraction des rayons X
DATE ET LIEU :
Mardi 24 mars 2015, à partir de 9h
Institut Jean Lamour
Site de Saurupt, Nancy
Amphithéâtre Eiffel
Lien vers le plan d'accès
OBJECTIFS :
- Etre capable de définir les caractéristiques du diffractomètre et les conditions de mesure permettant d'obtenir les informations recherchées.
- Savoir comment traiter les données et connaître les logiciels adaptés.
- Connaître les avantages et les limites de ces techniques
INSCRIPTION :
La participation est gratuite, sur inscription obligatoire en cliquant ici.fileadmin/Actualite/Seminaires/Fiche_inscription_XGAMMA_2015.docx
PROGRAMME :
9h-9h15 :
Pascal BOULET, responsable du Centre de Compétences X-Gamma de l'Institut Jean Lamour
Introduction
9h15-10h15 :
Jérôme DEBRAY, Institut Néel, CNRS - Université Joseph Fourier, Grenoble
Diffraction X polychromatique : La méthode de Laue
10h15-10h45 :
Pause-café et session posters
10h45-11h45 :
Loic LE DREAU - Société Bruker
Résolution structurale par l'utilisation de l'interface APEX
11h45-12h :
Présentation des posters
12h-13h30 :
Pause-déjeuner
13h30-14h30 :
Olivier PEREZ, CRISMAT, Université de Caen
Voyage en superespace
14h30-15h30 :
Benoit GUILLOT, CRM2, Université de Lorraine
La cristallographie à haute résolution : méthodes et applications
15h30-16h30 :
Marc DE BOISSIEU, SIMAP, CNRS - Université Joseph Fourier, Grenoble
La diffusion diffuse
16h30-17h15 :
Visite des installations du Centre de Compétences X-Gamma de l'Institut Jean Lamour
CONTACT :
Pascal Boulet : p.boulet@univ-lorraine.fr
Marie-Cécile de Weerd : marie-cecile.de-weerd@univ-lorraine.fr