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News
Category: Seminars / Symposia
Lundi 25 mars 2019 : Journée scientifique sur la complémentarité entre rayons X et microscopie électronique
Le Centre de Compétences X-Gamma de l'Institut Jean Lamour organise, en partenariat avec le service de formation des personnels de l'Université de Lorraine, une journée scientifique sur le thème de la complémentarité entre rayons X et microscopie électronique.
Date et lieu :
Lundi 25 mars 2019 de 9h à 17h
Mines Nancy et Institut Jean Lamour
Campus Artem, Nancy
Inscription :
La participation à cette journée est gratuite. L'inscription s'effectue avant le 6 mars 2019 auprès du service de la formation des personnels à l'aide de cette fiche.