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Production scientifique

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Article

Titre: Sequential analysis of diamond nucleation on silicon (001) with bias enhanced nucleation using X-ray photoelectron spectroscopy and reflection high energy electron diffraction investigations
Auteur(s): C. Sarrieu, N. Barth, A. Guise, J.C. Arnault, S. Saada, S. BARRAT et E. Bauer-Grosse
Journal: Physica Status Solidi A
Année: 2009
Volume: 206
Issue: 9
Pages: 1967-1971
Projet: Département CP2S : EFCM

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