Titre: | Optical constants of electroplated Bi2Te3 films by Mueller matrix spectroscopic ellipsometry |
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Auteur(s): | A. Zimmer, M. Stchakovsky, N. Stein, L. Johann, C. Eypert et C. Boulanger |
Journal: | Thin Solid Films |
Année: | 2008 |
Volume: | 516 |
Issue: | 10 |
Pages: | 2922-2927 |
Projet: | Département CP2S : Chimie et électrochimie pour l’élaboration et la valorisation de matériaux minéraux |