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Production scientifique

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Article

Titre: Optical constants of electroplated Bi2Te3 films by Mueller matrix spectroscopic ellipsometry
Auteur(s): A. Zimmer, M. Stchakovsky, N. Stein, L. Johann, C. Eypert et C. Boulanger
Journal: Thin Solid Films
Année: 2008
Volume: 516
Issue: 10
Pages: 2922-2927
Projet: Département CP2S : Chimie et électrochimie pour l’élaboration et la valorisation de matériaux minéraux

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