Titre: | Sin2psi analysis in thin films using 2D detectors: Non-linearity due to set-up, stress state and microstructure |
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Auteur(s): | D. Faurie, G. Geandier, P.-O. Renault, E. Le Bourhis et D. Thiaudière |
Journal: | Thin Solid Films |
Année: | 2013 |
Volume: | 530 |
Pages: | 25-29 |
DOI: | doi:10.1016/j.tsf.2012.02.031 |
Projet: | Département SI2M : Microstructures et Contraintes |