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Article
| Titre: | Interfacial trapping for hot electron injection in silicon |
|---|---|
| Auteurs: | Lu, Y., Lacour, D., Lengaigne, G., Le Gall, S., Suire, S., Montaigne, F. and Hehn, M. |
| Journal: | Applied Physics Letters |
| Annee: | 2013 |
| Volume: | 103 |
| olabel_issue: | 2 |
| Equipe: | Département P2M : Nanomagnétisme et Electronique de Spin |