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Publications: Articles


Titre: In situ monitoring of X-ray strain pole figures of a biaxially deformed ultra-thin film on a flexible substrate
Auteurs: Geandier, G., Faurie, D., Renault, P.-O., Thiaudière, D. and Le Bourhis, E.
Journal: Journal of Applied Crystallography
Annee: 2014
Volume: 47
Pages: 181-187
Equipe: Département SI2M : Microstructures et Contraintes

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