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Publications: Articles

Article

Titre: Optical constants of electroplated Bi2Te3 films by Mueller matrix spectroscopic ellipsometry
Auteurs: Zimmer, A., Stchakovsky, M., Stein, N., Johann, L., Eypert, C. and Boulanger, C.
Journal: Thin Solid Films
Annee: 2008
Volume: 516
olabel_issue: 10
Pages: 2922-2927
Equipe: Département CP2S : Chimie et électrochimie des matériaux

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