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| Titre: | Optical constants of electroplated Bi2Te3 films by Mueller matrix spectroscopic ellipsometry |
|---|---|
| Auteurs: | Zimmer, A., Stchakovsky, M., Stein, N., Johann, L., Eypert, C. and Boulanger, C. |
| Journal: | Thin Solid Films |
| Annee: | 2008 |
| Volume: | 516 |
| olabel_issue: | 10 |
| Pages: | 2922-2927 |
| Equipe: | Département CP2S : Chimie et électrochimie des matériaux |