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Publications: Articles

Article

Titre: Interfacial trapping for hot electron injection in silicon
Auteurs: Lu, Y., Lacour, D., Lengaigne, G., Le Gall, S., Suire, S., Montaigne, F. and Hehn, M.
Journal: Applied Physics Letters
Annee: 2013
Volume: 103
olabel_issue: 2
Equipe: Département P2M : Nanomagnétisme et Electronique de Spin

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