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Publications: Articles


Titre: Analysis of carrier parameters and bandgap of electroplated Bi2Te3 films by infrared spectroscopic ellipsometry
Auteurs: Zimmer, A., Stein, N., Terryn, H., Johann, L. and Boulanger, C.
Journal: Physica Status Solidi C - Current Topics in Solid State Physics
Annee: 2008
Volume: 5
olabel_issue: 5
Pages: 1190-1193
Equipe: Département CP2S : Chimie et électrochimie des matériaux

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