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Publications: Articles


Titre: Characterizations of bismuth telluride films from Mott-Schottky plot and spectroscopic ellipsometry
Auteurs: Zimmer, A., Stein, N., Johann, L., Terryn, H. and Boulanger, C.
Journal: Surface and Interface Analysis
Annee: 2008
Volume: 40
olabel_issue: 3-4
Pages: 593-596
Equipe: Département CP2S : Chimie et électrochimie des matériaux

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