Titre: | Electron work function decrease in SIMS analysis induced by neutral cesium deposition |
---|---|
Auteurs: | Philipp, P, Wirtz, T, Migeon, HN and Scherrer, H |
Journal: | International journal of mass spectrometry |
Annee: | 2007 |
Volume: | 264 |
olabel_issue: | 1 |
Pages: | 70-83 |
Equipe: | Département CP2S : Matériaux à propriétés thermoélectriques |