linkedintwitter
Annuaire  |  Flux RSS  |  Espace presse  |  Wiki IJL  |  Webmail  |  Videos  |    Photos   Congrès - Conférences  Congrès - Conférences 

Congrés - Conférences

Conference

Titre: New measurement method to characterize piezoelectric SAW substrates at very high temperature
Auteurs: Nicolay, P., Elmazria, O., Sarry, F., Aubert, T., Bouvot, L. and Hehn, M.
Journal: Proceedings - IEEE Ultrasonics Symposium
Annee: 2008
Pages: 1877-1880
Equipe: Centre de Compétences : MiNaLor micro et nanotechnologies

Retour vers la liste