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Centre de Compétences : MiNaLor micro et nanotechnologies
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1.
Aubert, T., Elmazria, O., Assouar, B., Hamdan, A. and Geneve, D.
Reliability of AlN/sapphire bilayer structure for high-temperature SAWapplications
, page 1490-1493.
2010
http://www.scopus.com/inw...ab4452c82135a028967301fcb
Equipe:
Centre de Compétences : MiNaLor micro et nanotechnologies
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