Congrés - Conférences

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Toutes :: 2010

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Tous :: A, B, C, D, E, F, G, H, I, J, K, L, M, N, O, P, R, S, T, V, W, Y, Z

References

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1.	Aubert, T., Elmazria, O., Assouar, B., Hamdan, A. and Geneve, D. Reliability of AlN/sapphire bilayer structure for high-temperature SAWapplications , page 1490-1493. 2010 http://www.scopus.com/inw...ab4452c82135a028967301fcb Equipe: Centre de Compétences : MiNaLor micro et nanotechnologies

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