Le Centre de Compétences X-Gamma organise chaque année, en mars, une journée de formation thématique. A cette occasion sont invités des experts des domaines de recherche traités au Centre de Compétences. Les précédentes journées ont porté sur :
2015 : Caractérisation des monocristaux par diffraction des rayons
2014 : Caractérisation des poudres par rayons X
2013 : SAXS, Tomographie X et Caractérisation de films minces à l’Institut Jean Lamour
2012 : Caractérisation par diffraction X sous conditions particulières
2011 : Caractérisation microstructurale par diffraction X
2010 : Caractérisation des échantillons polycristallins par diffraction X