Journée X-Gamma : Apport du rayonnement synchrotron pour la caractérisation des matériaux
Type d'événement
Formation
Le Centre de Compétences Diffraction, Diffusion, Fluorescence et Tomographie X, Spectroscopie Mössbauer (CC X-Gamma) de l'IJL organise sa journée annuelle de formation avec le CNRS. Elle portera sur le thème de l'apport du rayonnement synchrotron pour la caractérisation des matériaux.
Au programme :
- 7 présentations de 45 minutes par des responsables de lignes de lumière du Synchrotron SOLEIL (Cristal, Cassiopée, Swing, Hermes) et de l'ESRF (ID12, ID15)
- 2 session poster
- 1 table ronde
Inscription :
La participation à cette journée est gratuite, sur inscription :
- Via le portail Ariane pour les agents CNRS > Lien
- En téléchargeant cette fiche pour les agents non CNRS lorrains > Lien
- Via cette fiche pour les agents non CNRS hors Lorraine > Lien
Contacts :
herbert.petitjean@cnrs.fr
p.boulet@univ-lorraine.fr
Date
Date de fin
Lieu
Mines Nancy
92 rue du Sergent Blandan
Salle A006
Campus Artem
54000 NANCY