Centre de Compétences Microscopies, Microsondes et Métallographie (CC 3M)
Image STEM – HAADF : LaVO3 sur SrTiO3
Cartographie d’orientation par EBSD
Image MEB d’une couche mince
Activité
Le CC3M a pour mission de servir d'appui à la recherche en fournissant des moyens de caractérisation des matériaux très performants ainsi que les compétences humaines pour mener à bien les études envisagées.
Le CC3M se donne également pour mission de contribuer à la formation des doctorants et des chercheurs des laboratoires utilisateurs du centre, par le biais de stages de formation.
Pour plus d'informations, se rendre sur la page wiki du CC3M : https://wiki.ijl.univ-lorraine.fr/doku.php?id=wikiijl:cc:3m:accueil
Equipements
Le Centre de Compétences en Microscopies Electroniques et Microsondes (CC3M) regroupe plusieurs équipements dédiés à l’imagerie et à l’analyse :
- 2 microscopes électroniques en transmission (MET) haute résolution source FEG (Jeol)
- 1 microscope électronique en transmission conventionnel (FEI)
- 1 microscope électronique à balayage avec faisceau d’ions focalisé (FIB : Focused Ion Beam) (FEI)
- 2 microscopes électroniques à balayage (MEB) source FEG (ZEISS, FEI)
- 1 microsonde de Castaing source FEG (JEOL)
- 1 service de métallographie.
Exemples de travaux
- Ultrafast Melting of Metal-Organic Frameworks for Advanced Nanophotonics, Advanced Functional Materials, Article Number: 1908292, 2019, (IF 15.6), NK. Kulachenkov, S. Bruyere, SA. Sapchenko, YA. Mezenov, D.Sun, AA. Krasilin, A. Nomine, J. Ghanbaja, T. Belmonte, V.P Fedin, EA. Pidko, VA. Milichko.
- Local Structure and Point-Defect-Dependent Area-Selective Atomic Layer Deposition Approach for Facile Synthesis of p-Cu2O/n-ZnO Segmented Nanojunctions, ACS Applied Materials and Interfaces, Volume: 10, Issue: 43, Pages: 37671-37678, Published: Oct 2018, (IF 8.7), C. De Melo, M. Jullien, J. Ghanbaja, F. Montaigne, JF. Pierson, F. Soldera, F. Rigoni, N. Almqvist, A. Vomiero, F. Muecklich, D. Horwat.
- Controlling surface morphology by nanocrystalline/amorphous competitive self-phase separation in thin films: Thickness-modulated reflectance and interference phenomena, Acta Materalia, Volume 181, Pages 78-86, December 2019, (IF 7.3), A. Borroto, S. Bruyère, S. Migot, J.F. Pierson, T. Gries, D. Horwat.
- Understanding the mechanisms of Si-K-Ca glass alteration using silicon isotopes, Geochimica et Cosmochimica Acta, Volume: 203, Pages: 404-421, 2017 (IF 4.2), A. Verney-Carron, L. Sessegolo, M. Saheb, N. Valle, P. Ausset, R. Losno, D. Mangin, T. Lombardo, A. Chabas, C. Loisel.
- Chemical environment and functional properties of highly crystalline ZnSnN2 thin films deposited by reactive sputtering at room temperature, Solar Energy Materials and Solar Cells, Volume: 182, Pages: 30-36, 2018, (IF 6), F. Alnjiman, S. Diliberto, J. Ghanbaja, E. Haye, S. Kassavetis, P. Patsalas, C. Gendarme, S. Bruyere, F. Cleymand, P.Miska, JF. Pierson
- Structural Characterisation and Chemical Stability of Commercial Fibrous Carbons in Molten Lithium Salts, Materials (dec 2019):12(24)-4232 (IF 3), Blagoj Karakashov, Vanessa Fierro, Sandrine Mathieu, Philippe Gadonneix, Ghouti Medjahdi, Alain Celzard
- All-Optical Nanoscale Heating and Thermometry with Resonant Dielectric Nanoparticles for Controllable Drug Release in Living Cells, Laser & Photonics Reviews, Article Number: 1900082, 2020 (IF 9), GP. Zograf, AS. Timin, AR. Muslimov, II. Shishkin, A. Nomine, J. Ghanbaja, P. Ghosh, Q. Li, MV. Zyuzin, SV. Makarov.
Travailler avec nous
- Caractérisation morphologique et chimique des matériaux par MEB et/ou MET
- Analyses chimiques par microsonde de Castaing
- Diffraction électronique par MET
- Imagerie haute résolution en TEM et STEM
- Cartographies de phases et d’orientations par EBSD
- Usinage de lames ultraminces par FIB
- Mesures de dureté, polissage, microscopie optique
- Formations au maniement des MEB, MET, et FIB
Membres
Contact
Responsable du centre de compétences
Stéphanie BRUYERE
stephanie.bruyere@univ-lorraine.fr
+33 (0) 3 72 74 25 83
Contact administratif
Valérie FRANK
valerie.frank@univ-lorraine.fr
+ 33 (0)3 72 74 27 06
Nancy-Artem
Institut Jean Lamour
Campus Artem
2 allée André Guinier - BP 50840
54011 NANCY Cedex