Centre de Compétences Microscopies, Microsondes et Métallographie (CC 3M)

Le Centre de Compétences en Microscopies Electroniques et Microsondes (CC3M) regroupe plusieurs équipements dédiés à l’imagerie et à l’analyse :

• 2 microscopes électroniques en transmission (MET) haute résolution source FEG (Jeol)
• 1 microscope électronique en transmission conventionnel (FEI)
• 1 microscope électronique à balayage avec faisceau d’ions focalisé (FIB : Focused Ion Beam) (FEI)
• 2 microscopes électroniques à balayage (MEB) source FEG (ZEISS, FEI)
• 1 microsonde de Castaing source FEG (JEOL)
• 1 service de métallographie.

• Covalent vs. Non covalent chemical modification of multiwalled carbon nanotubes based-nanofluids: Stability and thermal conductivity steadiness over temperature, Journal of Molecular Liquids, Volume 404, 15 June 2024, 124856, Mauricio Pavía, Mélanie Emo, Sébastien Hupont, Abdul Rahman Mohamed, Soulayma Gal, Patrice Estellé, Brigitte Vigolo

   

• Short-Term Oxidation in HT-SEM of the Pt-Containing TROPEA Single Crystal Ni-Based Superalloy from 680 to 1000 °C, High Temperature Corrosion of Materials, Volume 101, pages 1211–1223, (2024), S. Mathieu, R. Podor, M. Emo, L. Hunault, M. Vilasi, J. Cormier & F. Pedraza  

• Silver doped Cantor alloy thin films with tweed-like microstructure,Scripta Materialia 258 (2025) 116521, S.E Benrazzouq, A. Redjaimia, J.Ghanbaja, J.S. Lecomte, S. Migot, V.A. Milichko, J.F. Pierson

   

• Ultrafast laser-induced topochemistry on metallic glass surfaces, Materials & Design, 2024/8/1, vol. 244, pages 113164, M. Prudent, A. Borroto, F. Bourquard, S. Bruyère, S. Migot, F. Garrelie, J.-F. Pierson, J.-P. Colombier 

   

• Impact of Interfacial Disorder and Band Structure on the Resonant Conductance Oscillation in Quantum-Well-Based Magnetic Tunnel Junctions, ACS Applied Electronic Materials, 03/09/2024, T. Ma, B. Tao, X. Devaux, H. Yang, Y. Zuo, S. Migot, O. Kurnosikov, M. Vergnat, X. Han, Y. Lu

   

• A thermodynamic study of the influence of the Al2O3 content on the CaO-SiO2-YO1.5 system, Journal of the European Ceramic Society, Volume 44, Issue 6, June 2024, Pages 4160-416, Justine Bonnal; Sofiane Mermoul; Carine Petitjean, PhD; David Bonina; Christine Gendarme; Simon Arnal, PhD; Michel Vilasi, Pr; Dr. Pierre-Jean Panteix
  
  
   

• Caractérisation morphologique et chimique des matériaux par MEB et/ou MET
• Analyses chimiques par microsonde de Castaing
• Diffraction électronique par MET
• Imagerie haute résolution en TEM et STEM
• Cartographies de phases et d’orientations par EBSD
• Usinage de lames ultraminces par FIB
• Mesures de dureté, polissage, microscopie optique
• Formations au maniement des MEB, MET, et FIB

• Stéphanie BRUYERE
• Mélanie EMO
• Erwan ETIENNE
• Christine GENDARME
• Jaafar GHANBAJA
• Pauline HARAUX
• Sylvie MIGOT
• Gwladys STECIUK