Centre de Compétences Diffraction, Diffusion, Fluorescence et Tomographie X, Spectroscopie Mössbauer (CC X-Gamma)
Résolution structurale sur monocristal : cluster d’un approximant de quasicristal
Caractérisation des couches minces : étude de la relaxation des contraintes sur un film épitaxié en fonction de la température
Test mécanique par nano-indentation d'un os pariétal et caractérisation de la microstructure par tomographie RX
Présentation
Le Centre de Compétences X-Gamma gère la plateforme de caractérisation des matériaux utilisant les rayonnements X et Gamma.
Ce centre est spécialisé dans la caractérisation des matériaux par diffusion, diffraction, imagerie et fluorescence X et par spectroscopie Mössbauer.
Il a pour vocation de développer les moyens de caractérisation des matériaux en relation avec les sujets de recherches traités au sein de l’Institut Jean Lamour.
Le CC X-Gamma est labellisé par le Pôle de Compétitivité Materalia.
Equipements
- 10 diffractomètres
- 3 spectromètres Mössbauer
- 1 spectromètre de Fluorescence X
- 1 Tomographe
Exemples de travaux
- Bottom-Up Confined Synthesis of Nanorod-in-Nanotube Structured Sb@N-C for Durable Lithium and Sodium Storage, Energy Mater. 2018, 8, 1703237, Wen Luo et al Adv
- Crystalline and Electronic Structures of the Al 1+ x V 2 Sn 2– x ( x = 0.19) Intermetallic Compound, 2020. Inorg. Chem. 59, 360–366, Boulet, Pascal, et al.
- Epitaxial growth of magnetostrictive TbFe2 films on piezoelectric LiNbO3, J. Phys.: Condens. Matter 31 (2019) 405801, Vincent Polewczyk et al.
- Spherical depth-sensing nanoindentation to characterize human anterior skull basebones: establishment of a test protocol, Journal of the Mechanical Behavior of Biomedical Materials, 2020 (accepted publication)
Valentin Favier, Patrice Gallet, Olivier Ferry, Jean-Philippe Jehl
Travailler avec nous
Le centre de compétences dispose des moyens techniques et scientifiques pour :
- Déterminer les phases et effectuer leurs quantifications dans un échantillon pulvérulent ou massique
- Déterminer les contraintes résiduelles / textures dans un échantillon massique ou sous formes de couches minces
- Résoudre les structures cristallines à partir de données de monocristal ou de poudres
- Mesurer la réactivité d’un matériau en fonction de la température et de l’atmosphère oxydo-réductrice
- Déterminer les épaisseurs de films minces par reflectométrie
- Déterminer la composition chimique par fluorescence X
- Former aux techniques de caractérisation des matériaux (mesures et traitements de données au moyens de logiciels spécifiques)
Membres
Contact
Responsable du centre de compétences
Pascal BOULET
p.boulet@univ-lorraine.fr
33 (0) 3 72 74 25 18
Nancy-Artem
Institut Jean Lamour
Campus Artem
2 allée André Guinier - BP 50840
54011 NANCY Cedex