Centre de Compétences Diffraction, Diffusion, Fluorescence et Tomographie X, Spectroscopie Mössbauer (CC X-Gamma)

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Résolution structurale sur monocristal : cluster d’un approximant de quasicristal
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Résolution structurale sur monocristal : cluster d’un approximant de quasicristal

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Caractérisation des couches minces : étude de la relaxation des contraintes sur un film épitaxié en fonction de la température
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Caractérisation des couches minces : étude de la relaxation des contraintes sur un film épitaxié en fonction de la température

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Test mécanique par nano-indentation d'un os pariétal et caractérisation de la microstructure par tomographie RX
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Test mécanique par nano-indentation d'un os pariétal et caractérisation de la microstructure par tomographie RX

Présentation

Le Centre de Compétences X-Gamma gère la plateforme de caractérisation des matériaux utilisant les rayonnements X et Gamma.

Ce centre est spécialisé dans la caractérisation des matériaux par diffusion, diffraction, imagerie et fluorescence X et par spectroscopie Mössbauer.

Il a pour vocation de développer les moyens de caractérisation des matériaux en relation avec les sujets de recherches traités au sein de l’Institut Jean Lamour.

Le CC X-Gamma est labellisé par le Pôle de Compétitivité Materalia.

Mots-clés
Diffraction
Diffusion
Fluorescence
Spectroscopie Mössbauer
Tomographie
Accordéons

Equipements

Contenu
  • 10 diffractomètres
  • 3 spectromètres Mössbauer
  • 1 spectromètre de Fluorescence X
  • 1 Tomographe

Exemples de travaux

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Travailler avec nous

Contenu

Le centre de compétences dispose des moyens techniques et scientifiques pour :

  • Déterminer les phases et effectuer leurs quantifications dans un échantillon pulvérulent ou massique
     
  • Déterminer les contraintes résiduelles / textures dans un échantillon massique ou sous formes de couches minces
     
  • Résoudre les structures cristallines à partir de données de monocristal ou de poudres
     
  • Mesurer la réactivité d’un matériau en fonction de la température et de l’atmosphère oxydo-réductrice
     
  • Déterminer les épaisseurs de films minces par reflectométrie
     
  • Déterminer la composition chimique par fluorescence X
     
  • Former aux techniques de caractérisation des matériaux (mesures et traitements de données au moyens de logiciels spécifiques)

Membres

Contact centre

Contact 

Responsable du centre de compétences
Pascal BOULET
p.boulet@univ-lorraine.fr
33 (0) 3 72 74 25 18

Contact administratif

Adresse

Nancy-Artem

Adresse

Institut Jean Lamour
Campus Artem
2 allée André Guinier - BP 50840
54011 NANCY Cedex

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