Centre de Compétences Diffraction, Diffusion, Fluorescence et Tomographie X, Spectroscopie Mössbauer (CC X-Gamma)

• 10 diffractomètres
• 3 spectromètres Mössbauer
• 1 spectromètre de Fluorescence X
• 1 Tomographe

• Belgacem, Faicel, Raphaël Schneider, Jean-François Portha, Ghouti Medjahdi, Lavinia Balan, Ksenia Parkhomenko, Anne-Cécile Roger, et Laurent Falk. « Influence of Perovskite Catalysts Synthesis Methods: Application to Dry Methane Reforming ». International Journal of Hydrogen Energy 91 (novembre 2024): 977‑88. https://doi.org/10.1016/j.ijhydene.2024.10.119.

• Gračanin, Nik, Matejka Podlogar, Sorour Semsari Parapari, Pascal Boulet, Francisco Ruiz-Zepeda, Sašo Šturm, et Nastja Rogan Šmuc. « Formation Mechanisms and Environmental Influences on the Crystal Growth of Wulfenite ». Scientific Reports 14, no 1 (22 avril 2024): 9234. https://doi.org/10.1038/s41598-024-60043-4.

• Li, Shu, Zi’an Zhang, Wenjie Gu, Maël Gallas, David Jones, Pascal Boulet, Lindsay M. Johnson, Victoire De Margerie, et Gavin P Andrews. « Hot Melt Extruded High-Dose Amorphous Solid Dispersions Containing Lumefantrine and Soluplus ». International Journal of Pharmaceutics 665 (novembre 2024): 124676. https://doi.org/10.1016/j.ijpharm.2024.124676.

• Magri, Pierre, Pascal Franchetti, Jean-Jacques Gaumet, Benoit Maxit, Sébastien Diliberto, et Philippe Pierrat. « Upgrading Biomass Wastes to Graphene Quantum Dots with White-Light-Emitting Features in the Solid State ». Applied Sciences 14, no 19 (30 septembre 2024): 8807. https://doi.org/10.3390/app14198807.

Le centre de compétences dispose des moyens techniques et scientifiques pour :

• Déterminer les phases et effectuer leurs quantifications dans un échantillon pulvérulent ou massique
   
• Déterminer les contraintes résiduelles / textures dans un échantillon massique ou sous formes de couches minces
   
• Résoudre les structures cristallines à partir de données de monocristal ou de poudres
   
• Mesurer la réactivité d’un matériau en fonction de la température et de l’atmosphère oxydo-réductrice
   
• Déterminer les épaisseurs de films minces par reflectométrie
   
• Déterminer la composition chimique par fluorescence X
   
• Former aux techniques de caractérisation des matériaux (mesures et traitements de données au moyens de logiciels spécifiques)

• Pascal BOULET
• Sébastien DILIBERTO
• Olivier FERRY
• Ghouti MEDJAHDI