Microscope électronique en transmission haute résolution

Ce microscope électronique en transmission haute résolution ACCEL ARM Cold FEG 200F (JEOL) corrigé en sonde et en image permet :

  • d'accéder à des informations à l'échelle atomique
  • d'établir des corrélations entre propriétés structurales et physico-chimiques
Caractéristiques techniques
  • 2 caméras CCD
  • 2 systèmes d'analyse chimique : EDS et EELS
  • Résolution :
    > 0.083 nm en mode STEM
    > 0.12 nm en mode TEM
    > 0.3 eV en mode EELS
Exemples de travaux
  • lfldgkmlhdk
  • fgkdjshdl
  • jegkjskgjsdfklgj
Galerie
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Micrographie d'un alliage intermétallique Fer-Aluminium (FeAl)
Texte
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Cartographie d'orientation d'un alliage Fer-Carbone-Nickel (FeCNi)
Texte
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Cliché de diffraction du Silicium
Texte
Cliché de diffraction du Silicium