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Production scientifique

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Article

Titre: Analysis of carrier parameters and bandgap of electroplated Bi2Te3 films by infrared spectroscopic ellipsometry
Auteur(s): A. Zimmer, N. Stein, H. Terryn, L. Johann et C. Boulanger
Journal: Physica Status Solidi C - Current Topics in Solid State Physics
Année: 2008
Volume: 5
Issue: 5
Pages: 1190-1193
Projet: Département CP2S : Chimie et électrochimie pour l’élaboration et la valorisation de matériaux minéraux

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