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Production scientifique

Publication single view

Article

Titre: Sin2psi analysis in thin films using 2D detectors: Non-linearity due to set-up, stress state and microstructure
Auteur(s): D. Faurie, G. Geandier, P.-O. Renault, E. Le Bourhis et D. Thiaudière
Journal: Thin Solid Films
Année: 2013
Volume: 530
Pages: 25-29
DOI: doi:10.1016/j.tsf.2012.02.031
Projet: Département SI2M : Microstructures et Contraintes

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