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Congrés - Conférences

Conference

Titre: Reliability of AlN/sapphire bilayer structure for high-temperature SAWapplications
Auteurs: Aubert, T., Elmazria, O., Assouar, B., Hamdan, A. and Geneve, D.
Journal: Proceedings - IEEE Ultrasonics Symposium
Annee: 2010
Pages: 1490-1493
Equipe: Centre de Compétences : MiNaLor micro et nanotechnologies

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