Diffraction des rayons X, Spectroscopie Mössbauer, Tomographie

Vos besoins

Des outils de caractérisation des matériaux par différentes techniques d'analyse de structure et/ou microstructure
Des mesures de contraintes résiduelles et de textures
Des mesures d'environnement chimique reconstruire le volume d’un objet
Une technique d'imagerie X non destructive en transmission.

Déterminer les phases et effectuer leurs quantifications dans un échantillon pulvérulent ou massique
Déterminer les contraintes résiduelles / textures dans un échantillon massique ou sous formes de couches minces
Mesurer la réactivité d’un matériau en fonction de la température (77K à 1200°C) et de l’atmosphère (oxydo-réductrice, neutre ou sous vide)
Déterminer les épaisseurs de films minces par reflectométrie
Déterminer la composition chimique par fluorescence X
Former aux techniques de caractérisation des matériaux (mesures et traitements de données au moyens de logiciels spécifiques)
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